Goniophotometer, การรวมทรงกลม, เครื่องกำเนิดไฟกระชาก, ปืน ESD, ห้องสิ่งแวดล้อม, ห้องระบายความร้อน

+8618117273997Weixin
คอร์สภาษาอังกฤษคอร์สภาษาอังกฤษ
中文简体 中文简体 en English ru Русский es Español pt Português tr Türkçe ar العربية de Deutsch pl Polski it Italiano fr Français ko 한국어 th ไทย vi Tiếng Việt ja 日本語

ผลิตภัณฑ์ผลิตภัณฑ์

การใช้งาน การใช้งาน

LISUN จัดหาเครื่องมือทดสอบและโซลูชั่นสำหรับไฟ LED, มือถือและเครือข่าย, เครื่องใช้ไฟฟ้าในยานยนต์, แอพพลิเคชั่นในครัวเรือน, ปลั๊กและสวิตช์

ดูเพิ่มเติม

มาตรฐานมาตรฐาน

LISUN เป็นสมาชิก CIE และวิศวกรบางคนเป็นผู้เชี่ยวชาญ IEC ทั้งหมด LISUN เครื่องมือวัดแสงและไฟฟ้าได้รับการออกแบบและผลิตตามมาตรฐานสากลหรือระดับประเทศ เช่น IEC, CIE, ISO, GB (จีน), BIS (อินเดีย), NOM (เม็กซิโก), ANSI (สหรัฐอเมริกา), PTB (เยอรมนี) TSE (ตุรกี) และ SASO (ซาอุดีอาระเบีย)

ดูเพิ่มเติม

เกี่ยวกับเราเกี่ยวกับเรา

vedio

LISUN เป็นผู้นำด้านเครื่องมือทดสอบระบบแสงสว่างและไฟฟ้า พบในปี 2003 ผลิตภัณฑ์ทั้งหมดเป็นไปตาม ISO9001 และผ่านใบรับรอง CE LISUN เป็นสมาชิก CIE ผลิตภัณฑ์ได้รับการจำหน่ายกว่า 150 ประเทศ

ข่าวล่าสุดข่าวล่าสุด

การรับรองความปลอดภัยของห่วงโซ่อุปทาน: บทบาทสำคัญของอุปกรณ์ทดสอบการปฏิบัติตามข้อกำหนด RoHS
02 ต.ค. , 2026 2 ชม

การสร้างความมั่นใจในความปลอดภัยของห่วงโซ่อุปทาน: บทบาทสำคัญของ...

บทคัดย่อ ด้วยการขยายขอบเขตการควบคุมอย่างต่อเนื่องภายใต้มาตรฐาน EU RoHS 2.0 ผลิตภัณฑ์ไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ที่เน้นการส่งออก...

งานวิจัยเกี่ยวกับการประยุกต์ใช้เครื่องจำลองคลื่นวงแหวนในการทดสอบภูมิคุ้มกัน EMC ของอุปกรณ์ไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์
01 ต.ค. , 2026 3 ชม

งานวิจัยเกี่ยวกับการประยุกต์ใช้เครื่องจำลองคลื่นวงแหวน...

บทคัดย่อ ในระบบโครงข่ายไฟฟ้าอุตสาหกรรมและระบบจ่ายไฟฟ้าพลเรือน การรบกวนแบบคลื่นวงแหวนสั่นแบบลดทอนเกิดขึ้น...

การสร้างความมั่นใจในความปลอดภัยในพื้นที่อันตรายด้วยระบบทดสอบ ESD ระเบิดขั้นสูง
30 ก.ย. 2026 41 ชม

การสร้างความมั่นใจในความปลอดภัยในพื้นที่อันตรายด้วย Advan...

บทคัดย่อ ในสถานการณ์การปฏิบัติงานที่เป็นอันตราย เช่น อุตสาหกรรมทางทหาร วิศวกรรมเคมี การสำรวจและผลิตน้ำมันและก๊าซ...

คู่มือฉบับสมบูรณ์สำหรับการทดสอบชิ้นส่วน IC โดยใช้เครื่องมือทดสอบ ESD CDM สำหรับชิ้นส่วน IC ขั้นสูง
29 ก.ย. 2026 31 ชม

คู่มือฉบับสมบูรณ์สำหรับการทดสอบชิ้นส่วน IC โดยใช้...

บทคัดย่อ ในระหว่างกระบวนการผลิต การขนส่ง และการประกอบชิปเซมิคอนดักเตอร์ ไฟฟ้าสถิตแบบจำลองอุปกรณ์ประจุ...

การรับประกันความน่าเชื่อถือของวงจรรวม: เหตุใดจึงเป็นเช่นนั้น ESD-883D เครื่องจำลอง HBM/MM เป็นสิ่งจำเป็นสำหรับการวิจัยและพัฒนาเซมิคอนดักเตอร์
28 ก.ย. 2026 48 ชม

การรับประกันความน่าเชื่อถือของวงจรรวม: เหตุใดจึงเป็นเช่นนั้น ESD-883D HBM/MM...

ตลอดกระบวนการทำงานทั้งหมด ตั้งแต่การวิจัยและพัฒนา การบรรจุภัณฑ์ การผลิต การขนส่ง และการประกอบอุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์...

คู่มือฉบับสมบูรณ์เกี่ยวกับระบบทดสอบการฉีดกระแสไฟฟ้าปริมาณมากสำหรับ EMC ในรถยนต์
27 ก.ย. 2026 130 ชม

คู่มือฉบับสมบูรณ์เกี่ยวกับเทคโนโลยีการฉีดกระแสไฟฟ้าปริมาณมาก...

ด้วยการพัฒนาอย่างต่อเนื่องของเทคโนโลยีพลังงานใหม่และเทคโนโลยีรถยนต์อัจฉริยะที่เชื่อมต่อกัน ปริมาณอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์...

การเพิ่มประสิทธิภาพการทดสอบการลัดวงจรและการขาดของสายไฟในรถยนต์ด้วยโปรแกรมจำลองอัตโนมัติ
26 ก.ย. 2026 97 ชม

การเพิ่มประสิทธิภาพการเปิด-ปิดวงจรสายไฟในรถยนต์...

บทคัดย่อ ด้วยการพัฒนาและปรับปรุงระบบอิเล็กทรอนิกส์ยานยนต์สมัยใหม่อย่างต่อเนื่อง ปริมาณของ ECU ในรถยนต์จึงเพิ่มขึ้น...

การเพิ่มประสิทธิภาพการทดสอบภูมิคุ้มกันของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ยานยนต์ด้วยเครื่องจำลองแรงดันไฟฟ้าสี่ควอดแรนต์
25 ก.ย. 2026 142 ชม

การเพิ่มประสิทธิภาพการทดสอบภูมิคุ้มกันของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ในรถยนต์...

บทคัดย่อ ระบบไฟฟ้าในรถยนต์ต้องเผชิญกับความผิดปกติทางไฟฟ้าที่ซับซ้อน รวมถึงแรงดันตก ขั้วไฟฟ้าผิด ...

ลูกค้าของเราลูกค้าของเรา

ลูกค้า
ลูกค้า
ลูกค้า
ลูกค้า
ลูกค้า
ลูกค้า
ลูกค้า
ลูกค้า
ลูกค้า
ลูกค้า
ลูกค้า
ลูกค้า