+8618117273997Weixin
ภาษาอังกฤษ
中文简体 中文简体 en English ru Русский es Español pt Português tr Türkçe ar العربية de Deutsch pl Polski it Italiano fr Français ko 한국어 th ไทย vi Tiếng Việt ja 日本語

เกจสำหรับตรวจสอบการไม่สามารถเข้าถึงได้ด้วย IEC60884 รูปที่ 9/10

หมายเลขสินค้า: SMT-CZ12

ฝากข้อความ

=
  • รายละเอียด
  • 1) เกจทดสอบ 1N สำหรับตรวจสอบการไม่สามารถเข้าถึงได้ด้วย IEC60884 รูปที่ 10: แบบจำลอง LISUN คือ SMT-1N
    IEC60884-1 รูปที่ 10 เกจสำหรับตรวจสอบการเข้าไม่ถึงชิ้นส่วนที่มีไฟฟ้า ผ่านบานเกล็ด และชิ้นส่วนที่มีไฟฟ้าของเต้ารับที่มีการป้องกันที่เพิ่มขึ้น
    เป็นไปตาม IEC60884-1 รูปที่ 10, DIN VDE 0620-1:2010-02 Lehre 13 เป็นต้น

    2) เกจทดสอบ 20N สำหรับตรวจสอบการไม่สามารถเข้าถึงได้ด้วย IEC60884 รูปที่ 9: แบบจำลอง LISUN คือ SMT-20N
    IEC60884-1 รูปที่ 9 - เกจสำหรับตรวจสอบการไม่สามารถเข้าถึงชิ้นส่วนที่มีไฟฟ้าผ่านบานเกล็ด
    เป็นไปตาม IEC60884-1 รูปที่ 9, DIN VDE 0620-1:2010-02 Lehre 15 เป็นต้น

    เกจทดสอบ 1N สำหรับตรวจสอบการไม่สามารถเข้าถึงได้ด้วย IEC60884 รูป 10

    เกจทดสอบ 20N สำหรับตรวจสอบการไม่สามารถเข้าถึงได้ด้วย IEC60884 รูป 9

    Tags: ,